由国际测量与仪器委员会 ( ICMI )、中国国家自然科学基金委员会 ( NSFC )、中国计量测试学会 ( CSM )、中国仪器仪表学会 ( CIS )发起，由我校做为主办单位的ISIST 2008国际会议将于2008年9月15日至9月18日在沈阳召开。

为进一步提高该系列会议的国际影响力，本次会议将邀请SPIE作为会议协办单位(Cooperating organization)共同组织进行，会议论文集将由SPIE出版发行，并全部由Ei检索。

同时，大会邀请一批世界知名学者到会作特邀专题发言，目前已经确定的特邀报告如下：

1.        光学系统设计，Prof. Jose Sasian (University of Arizona)

2.        梯度折射率透镜，Prof. Duncan T. Moore       (University of Rochester)

3.        纳米压印技术的发展，Prof. Stephen Y. Chou       (Princeton University)

4.        激光扫描共焦显微测量技术，Prof. Tony Wilson       (The University of Oxford)

5.        PTB激光测量的最新进展，Dr Ahmed Abou-Zeid       (德国PTB)

6.        飞秒激光在精密测量中的应用，Prof. Seung-Woo Kim       (韩国KAIST)

7.        新原理激光器及在精密测量中的应用，张书练 教授       （清华大学）

会议稿件摘要，校内部分截止日期为4月30日，欢迎校内相关单位积极投稿。详细会议内容见会议网站(www.isist.org)。