化工学院甘阳教授的研究成果引起国际关注
时间:2010-5-13 9:32:19   阅读:   标签: 化工学院 甘阳 教授 研究 成果 国际 关注

201057,美国材料研究学会(Materials Research SocietyMRS)官方网站www.mrs.org的“材料研究当前新闻”(Current research news of Materials News)栏目,以“光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖”为题,报道了2007年引进的化工学院催化科学与工程系的甘阳教授近期发表在Ultramicroscopy上的原创性研究成果(合作者为墨尔本大学的Franks教授)。这是甘阳教授继2009年受邀在Surface Science Reports(影响因子:12.808)上发表独立署名特邀综述后,又一引起国际关注的成果。

该报道称:“清洁原子力显微镜(atomic force microscopeAFM)针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现,具有超尖刺突的标定光栅作为“刷子”,可用来机械清除AFM探针上的污染物,这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。这一方法,不但能用来无损、高效地去除有机和无机污染物,而且可以实现污染物去除和探针研究的一步完成。此外,该方法既可用来清洁胶体/颗粒探针,也可以用来清洁标准AFM针尖。”

甘阳教授认为,作为一种新型的表面污染物“定点”清除方法,该方法的应用远不限于清洁原子力显微镜探针,更有望在广泛的表界面研究、微电子等领域中得到广泛的应用。

下面为美国材料研究学会官方网站的相关报道。

链接:http://www.mrs.org/s_mrs/sec.asp?CID=1920&DID=84063

 

另外,这篇题为“Cleaning AFM colloidal probes by mechanically scrubbing with supersharp “brushes””的论文,在Elsevier出版社2009年第三季度的“Top 25 Hottest Articles”中列Ultramicroscopy的第1位(请见下图)。UltramicroscopyElsevier出版的显微研究领域的国际著名期刊。(注:Elsevier每个季度都对发表论文(所有Science Direct网络上可下载的论文)的被下载次数进行统计,以下载次数的多少,将该季度下载数排名前25名的论文称为“Science Direct Top 25 Hottest Articles”(25篇最热门论文)。该排行从一个侧面反映出一篇论文的受关注程度。)

下面为Elsevier出版社的ScienceDirect Top 25 Hottest Articles网站的内容。链接:http://top25.sciencedirect.com/subject/physics-and-astronomy/21/journal/ultramicroscopy/03043991/archive/23/

 

甘阳教授的学校主页http://chemeng.hit.edu.cn/news/sub_szdw.asp?id=1201

 

1.      美国材料研究学会官方网站的相关报道

Link: http://www.mrs.org/s_mrs/sec.asp?CID=1920&DID=84063

 

Cleaning AFM probe tip using a grating brush

 

(Credit: Yan Gan et al., Ultramicroscopy)

 

Cleaning of atomic force microscope (AFM) tips is crucial for reliable AFM imaging and force measurements. Researchers have now demonstrated that a brush, a calibration grating with supersharp spikes, can be used to mechanically scrub away contaminants by scanning the probe against the spikes at high load at constant-force mode. This allows for removal of organic/inorganic material in a non-destructive and highly efficient manner. In addition, contamination removal and probe study can be completed in a single step. Also, colloidal/particle probes as well as standard AFM tips can be cleaned by thus method.

 

Reference

Cleaning AFM colloidal probes by mechanically scrubbing with supersharp “brushes”, Ultramicroscopy, Volume 109, Issue 8, July 2009, Pages 1061-1065. DOI:10.1016/j.ultramic.2009.03.019

(May 7, 2010)

 

 

1.      Elsevier出版社的ScienceDirect Top 25 Hottest Articles网站的内容

Link:http://top25.sciencedirect.com/subject/physics-and-astronomy/21/journal/ultramicroscopy/03043991/archive/23/

发布者:刘铭辉 | 来源: 化工学院
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